书目详细信息
： 材料分析测试技术:材料X射线衍射与电子显微分析
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-5603-1338-2:CNY36.80 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 230000 |
| 题名责任者项： | 材料分析测试技术/.周玉，武高辉编著 |
| 版本项： | 2版 |
| 出版发行项： | 哈尔滨:,哈尔滨工业大学出版社:,2007 |
| 载体形态项： | 311页:;+图:;+26cm |
| 相关题名附注： | 封面英文题名：Analysis methods in materials science: X-ray diffraction and electron microscopy in materials science |
| 提要文摘： | 本书介绍了用X射线衍射和电子显微技术分析材料微观组织结构的原理、设备及试验方法。具体内容包括：X射线的性质、衍射方向、衍射强度、X射线物相分析、多晶体结构、复型技术等。 |
| 并列题名： | Analysis methods in materials science eng |
| 题名主题： | 金属材料 X射线衍射分析 |
| 题名主题： | 金属材料 电子显微镜分析 |
| 题名主题： | 金属材料 |
| 题名主题： | X射线衍射分析 |
| 题名主题： | 电子显微镜分析 |
| 中图分类： | TG115.23 |
| 个人名称等同： | 周玉 编著 |
| 个人名称等同： | 武高辉 (大学教师) 编著 |
| 记录来源： | CN CQYZTSG 20241116 |