书目详细信息
： 自动测试及接口技术
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 7-111-15779-6:CNY25.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 自动测试及接口技术/.陈长龄等编著 |
| 出版发行项： | 北京:,机械工业出版社:,2005 |
| 载体形态项： | 267页:;+26cm |
| 一般附注： | 普通高等教育测控信息技术规划教材 |
| 提要文摘： | 本书主要讲述了现代自动测试系统体系结构模型和发展概况，程控电子测试设备器件消息的消息交换控制协议、公用命令和特定的标准命令等。 |
| 并列题名： | Automated Test System & Interface Technology eng |
| 题名主题： | 自动检测系统 高等教育 教材 |
| 中图分类： | TP274 |
| 个人名称等同： | 陈长龄 编著 |
| 记录来源： | CN 人天书店 20240605 |